恒溫恒濕箱規(guī)格

簡要描述：恒溫恒濕箱規(guī)格常用于考核和確定電工、電子、電器、工業(yè)電子產(chǎn)品零組件、自動(dòng)化零部件、汽車配件、通訊組件、金屬、塑膠涂料油漆等行業(yè)、國防工業(yè)、化學(xué)材料、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、LED、LCD、光電、光伏、電子芯片、IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化產(chǎn)品或材料在高低溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱環(huán)境條件下使用和存放的適應(yīng)性試驗(yàn)。

產(chǎn)品型號AP-HX
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間2024-11-07
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恒溫恒濕試驗(yàn)室

低溫恒溫恒濕試驗(yàn)室高低溫測試箱高低溫試驗(yàn)機(jī) 高溫高濕濕熱箱電子防潮老化測試箱模擬環(huán)境濕熱氣候儀器防水耐熱測試箱恒溫恒濕老化試驗(yàn)箱高低溫溫濕度交變試驗(yàn)箱耐寒耐熱試驗(yàn)箱調(diào)溫調(diào)濕環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備濕熱試驗(yàn)機(jī) 水冷溫箱濕熱檢測箱溫濕度控制箱溫濕度試驗(yàn)機(jī) 恒溫恒濕機(jī) LED恒溫恒濕試驗(yàn)箱 80L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 150L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 225L恒溫恒濕試驗(yàn)箱恒溫恒濕試驗(yàn)箱 408L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 800L恒溫恒濕試驗(yàn)箱 1000L恒溫恒濕試驗(yàn)箱可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱

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詳細(xì)介紹

品牌	愛佩科技/A-PKJ	產(chǎn)地類別	國產(chǎn)
應(yīng)用領(lǐng)域	電子/電池,道路/軌道/船舶,綜合

恒溫恒濕箱規(guī)格簡介
本設(shè)備常用于考核和確定電工、電子、電器、工業(yè)電子產(chǎn)品零組件、自動(dòng)化零部件、汽車配件、通訊組件、金屬、塑膠涂料油漆等行業(yè)、國防工業(yè)、化學(xué)材料、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、LED、LCD、光電、光伏、電子芯片、IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化產(chǎn)品或材料在高低溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生凝露的濕熱環(huán)境條件下使用和存放的適應(yīng)性試驗(yàn)。
恒溫恒濕箱規(guī)格技術(shù)參數(shù)
1、型號：AP-HX-80、AP-HX-150、AP-HX-225、AP-HX-408、AP-HX-800、AP-HX-1000
2、內(nèi)容積標(biāo)準(zhǔn)尺寸如下：
80升:400×500×400mm；
150升:500×600×500mm；
225升:500×750×600mm；
408升:600×850×800mm；
800升:1000×1000×800mm；
1000升:1000×1000×1000mm；（備注更多不規(guī)則或者非標(biāo)尺寸或者容積可致電曹非標(biāo)定制）
3、溫度可選擇范圍：低溫0℃～高溫150℃；-20℃～高溫150℃；-40℃～高溫150℃；-70℃～高溫150℃。
4、高濕度范圍：zui高可做到98%RH的高濕，但可做濕度測試的范圍一般標(biāo)配為（20%～98%RH）；而非標(biāo)低濕型則會(huì)到：（5%/10%～98%H）
5、溫度波動(dòng)度：±0.5℃
6、濕度均勻度：±3.0%RH
7、溫度均勻度：±1.5℃
8、濕度波動(dòng)度：±2.0%RH
9、升溫速率：約3.0℃～4.0℃/min
10、降溫速率：約1.0℃～1.5℃/min
控制系統(tǒng)
★主要由控制面板、配電盤、保溫隔層、送風(fēng)機(jī)、加熱器、加濕器、冷凍機(jī)組合而成，主要規(guī)格可分為6種標(biāo)準(zhǔn)尺寸及10種不同條件之規(guī)范。
★控制器可經(jīng)由LAN界面與計(jì)算機(jī)連線，使用者可以在計(jì)算機(jī)熒幕上設(shè)計(jì)程序、收集測試資料與記錄、呼叫程序執(zhí)行、遙控機(jī)器開關(guān)機(jī)、USB等功能。
★利用多翼式送風(fēng)機(jī)強(qiáng)力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，使室內(nèi)溫濕度分布均勻。
★完備的安全保護(hù)裝置，假如異常狀況發(fā)生時(shí)，控制器熒幕上即自動(dòng)顯示故障狀態(tài)，切斷電源開關(guān)，并提供故障排除方法
能滿足以下標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 10586 -2006 濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備檢驗(yàn)方法總則
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)B：高溫
GB/T 2423.3-2006 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn)

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