a.電阻元件發(fā)熱。測量直流試驗(yàn)電壓用的高阻器采用的電阻元件一般是體積小、功率小，當(dāng)其中通過電流的時(shí)間較長時(shí)，可能使其發(fā)熱而改變其電阻值引起測量誤差。
b．支架絕緣電阻低。南于單個(gè)電阻元件的電阻值很_人，而支架材料本身的絕緣電阻較低，或者支架受不良的氣象條件和保存條件的影響，而使絕緣電阻降低，這就相當(dāng)于電阻元件的兩端并聯(lián)一個(gè)高值電阻引起高阻器的參數(shù)變化，導(dǎo)致分壓比變化。因此，測量直流試驗(yàn)電壓用的高阻器的電阻元件的功率水能太小，其支架應(yīng)進(jìn)行防止表面泄漏的處理，使其絕緣電阻應(yīng)足夠大。
c高壓端電暈放電。在高阻器的高壓端和靠近高壓端的電阻元件，出于處于高電壓而發(fā)生電暈放電，電暈放電不儀會損壞電阻元件（特別是薄膜電阻的膜層），使之變質(zhì)，而且也相當(dāng)于在電阻元件上并接一個(gè)高值電阻，而使高阻器的電阻值發(fā)生變化，引起測最誤差。因此，應(yīng)避免高阻器高壓端及其附近發(fā)生電暈放電。 | 
